元器件百科

支持GPIB外围设备扩展功能。

模块化设计，为扩展多种功能提供了测试平台。

Board View功能可即时显示不良脚位，针点位置，方便检修。

测试程序全部自动生成并ATPD（Auto Test Program Debug）。

PTI818 BGA测试仪系统具自我诊断功能及远端监控和遥控功能。

完整丰富的测试统计资料及报表，且自动储存，不因断电而遗失数据。

丰富的测试信号源及Reed Relay Switching Board,大大的保证了稳定性和测试覆盖率。

IC内部的开短路测试。

IC 内的保护二极体测试。

IC上元器件值的测试 。

封装与晶圆锡球接点的开短路测试。

对IC上电，测试关键点的电压，来检测内部功能。

Pin to Pin 、Pin to GND 、Pin to VCC　阻抗比对测试。

Pin to Pin 、pin to GND 、Pin to VCC　电容比对测试。

通用GPIB扩展来量测IC关键点波形，频率等参数。

一、大批量返修IC的检测。

二、不良IC的故障原因的查找及统计，以便改进设计。

三、IC质不高的来料检查，查出率在99.5%以上，且速度快。